Det här ska köpas in

KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.

Tendello länkar bara till underlag som TED eller originalkällan gör tillgängliga. En extern tjänst kan kräva konto för vissa filer eller för att lämna anbud.